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百特BeNano系列纳米粒度及Zeta电位仪光学检测系统介绍
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百特BeNano系列纳米粒度及Zeta电位仪光学检测系统介绍

BeNano系列纳米粒度及Zeta电位仪是百特新开发的测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS,可以准的检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等等

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产品特性:粒度仪是否进口:否产地:中国
加工定制:否品牌:百特型号:BeNano
类型:纳米粒度仪测量范围:0.3nm–15um测量准确度:1%
测量重复性:1%测量时间:10s

百特BeNano系列纳米粒度及Zeta电位仪光学检测系统介绍详细介绍

百特BeNano系列纳米粒度及Zeta电位仪光学检测系统介绍


BeNano 系列纳米粒度及 Zeta 电位仪是百特新开发的测量纳米颗粒粒度和 Zeta 电位的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等等领域的基础研究和质量分析质量控制用途。

基本性能指标

粒径检测

原理:动态光散射技术

粒径范围:0.3nm–15μm*

样品量:3μL–1mL*

Zeta 电位测试

技术:相位分析光散射

Zeta 范围:无实际限制

电泳迁移率范围:>±20μm.cm/V.s

分子量测试

分子量范围:342 Da–2 x 107

Da*

微流变测试

频率范围:0.2 – 1.3 x 107

 rad/s

系统参数

温控范围:-15° C - 110° C +/- 0.1° C

冷凝控制:干燥空气或者氮气

标准激光光源:50 mW , 671 nm

相关器:最快 25 ns 采样,最多 4000 

通道,1011 动态线性范围

检测器:APD 

光强控制:手动或者自动

软件

中文和英文

符合 21CFR Part 11

* 取决于样品和选件

检测参数

流体力学尺寸 Dh

分布系数 PD.I

扩散系数 D

颗粒间相互作用力因子 kd

颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

计算分子量

溶液粘度和折光指数

溶液流变学信息 G*,G‘,G“,η*,J

原理及参数

电泳光散射

Zeta 电位及其分布

带电颗粒的电泳迁移率

静态光散射

分子量

维利系数 A2

趋势测试

Zeta 电位 pH 滴定

粒径和 Zeta 电位的温度趋势测试

BeNano 系列各型号功能区分

BAT-1 自动滴定仪(选件)

BAT-1 自动滴定仪与 BeNano 系列连用,可以对于样品进行自动化的酸碱滴定测试,具有测试效定量、重复性好、结果不依赖于操作者等特点。由于盛放样品的样品管可抛弃,避免了交叉污染的风险。

SV-10 粘度计(选件)

SV-10 采正弦波振动技术,是一款使用简便、自带温度传感器、具备连续测量能力、能够检测样品的粘度信息的粘度计,其检测能力覆盖 0.3 mPa.s – 10,000 mPa.s 动态测量范围。



百特BeNano系列纳米粒度及Zeta电位仪光学检测系统介绍

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