| 产品特性：粒度仪 | 是否进口：否 | 产地：丹东 |
| 加工定制：否 | 品牌：百特 | 型号：BeNano Zeta |
| 类型：纳米粒度仪 | 测量范围：无实际限制um | 测量准确度：1% |
| 测量重复性：1% | 测量时间：5s |
百特测量颗粒光学检测系统BeNano Zeta 电位分析仪
BeNano Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。
选配件
BeScan稳定分析仪是基于多重光散射原理的样品稳定性分析设备，通过检测得到样品随空间分布、时间、温度的不稳定性变化，并给出不稳定性指数IUS，粒子迁移速度及样品粒径随时间的变化曲线等信息。 BeScan灵敏的光学系统可以给出超过肉眼200倍以上的灵敏度，能更好的洞悉样品的微观结构变化，从而节约检测时间，缩短配方研制周期。BeScan与BeNano联合使用，通过定量的IUS和Zeta电位信息研究样品的变化及其原因。
检测参数
●Zeta 电位
●Zeta 电位分布
检测技术
●电泳光散射
●相位分析光散射
纳米粒度及电位分析仪相关技术
动态光散射技术DLS，又称作光子相关光谱PCS或者准弹性光散射。该技术检测由于颗粒布朗运动而产生的散射光的波动随时间的变化。其中小颗粒造成的散射光信号波动较快，大颗粒造成的散射光信号波动较慢。APD检测器将散射光信号转化为电信号，再通过数字相关器的运算处理，得到颗粒在溶液中扩散的速度信息.
基本性能指标
Zata电位测试
| 原理 | 相位分析光散射技术 |
检测角度 | 12° |
Zeta范围 | 无实际限制 |
电泳迁移率范围 | > ±20 μ.cm/V.s |
电导率范围 | 0-260 mS/cm |
Zeta测试粒径范围 | 2 nm – 110 μm |
样品量 | 0.75 mL – 1.0 mL |
趋势测试
| 时间和温度 |
系统参数
温控范围 | -15℃-110℃，精度±0.1℃ |
冷凝控制 | 干燥空气或者氮气 |
标准激光光源 | 50 mW 高性能固体激光器， 671 nm |
相关器 | 最多 4000通道，1011动态线性范围 |
检测器 | APD （高性能雪崩光电二极管） |
光强控制 | 0.0001% - 100，手动或者自动 |
软件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
百特测量颗粒光学检测系统BeNano Zeta 电位分析仪
