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百特BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪
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百特BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪

BeNa***80ZetaPro纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano90+BeNa***80+BeNanoZeta三合一的光学检测系统。该系统中集成了背向+90°动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,

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产品特性:粒度仪是否进口:否产地:丹东
加工定制:否品牌:百特型号:BeNano 180 Zeta
类型:纳米粒度仪测量范围:0.3 nm – 15 μmum测量准确度:±20%
测量重复性:±20%测量时间:0 - 260s

百特BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪详细介绍

百特BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪


BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪 是 BeNano  90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的光学检测系统。 该系统中集成了背向 +90°动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分 布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可 广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的 基础研究和质量分析与控制。

检测参数


●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

●颗粒体系的 Zeta 电位及其分布

●分子量

●分布系数 PD.I

●扩散系数 D

●流体力学直径 DH

●颗粒间相互作用力因子 kD

●溶液粘度

检测技术

●动态光散射

●静态光散射

●电泳光散射


基本性能指标

粒径检测

  原理  动态光散射技术
  粒径范围  0.3 nm – 15 μm
  样品量  3 μL – 1 mL
  检测角度  173 °+90 ° + 12°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zate电位测试

  原理  相位分析光散射技术
  检测角度  12°
  Zeta范围  无实际限制
  电泳迁移率范围  > ±20 μ.cm/V.s
  电导率范围  0 - 260 mS/cm
  Zeta测试粒径范围  2 nm – 110 μm  

分子量测试


  分子量范围  342 Da – 2 x 107 Da

微流变测试


  测试能力  均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

粘度和折光率测试


  粘度范围  0.01 cp – 100 cp
  折光率范围  1.3-1.6

趋势测试


  时间与温度

系统参数


  温控范围  -15°C - 110°C,精度±0.1°C
  冷凝控制  干燥空气或者氮气
  相关器  50 mW 高性能固体激光器, 671 nm
  电泳迁移率范围  最快25 ns采样,最多 4000通道,1011动态线性范围
  检测器  APD (高性能雪崩光电二极管)
  光强控制  0.0001%  - 100,手动或者自动    

软件



  中文和英文  符合21CFR Part 11



BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。

基本性能指标

粒径检测


  原理  动态光散射技术
  粒径范围  0.3 nm – 10 μm 
  样品量  40 μL – 1 mL 
  检测角度  173 ° + 12°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta电位测试


  原理  相位分析光散射技术
  检测角度  12°
  Zeta范围  无实际限制
  电泳迁移率范围  >±20 μ.cm/V.s
  电导率范围  0 - 260 mS/cm
  Zeta测试粒径范围  2 nm – 110 μm  

分子量测试


  分子量范围  342 Da – 2 x 107 Da    

微流变测试


  测试能力  均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量 

粘度和折光率测试


  粘度范围  0.01 cp – 100 cp
  折光率范围  1.3-1.6

趋势测试


  时间和温度

系统参数


  温控范围  -15°C - 110°C,精度±0.1°C
  冷凝控制  干燥空气或者氮气
  标准激光光源  50 mW 高性能固体激光器, 671 nm
  相关器  最快25 ns采样,最多 4000通道,1011动态线性范围
  检测器  APD (高性能雪崩光电二极管)
  光强控制  0.0001%  - 100,手动或者自动  


软件


 中文和英文 符合21CFR Part 11

百特BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪

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